Ультразвуковые дефектоскопы фирмы "Panametrics"
Ультразвуковая дефектоскопия - широко распространенный метод обнаружения и исследования скрытых внутренних дефектов в основном металле (поковки, штамповки, литье и т.д.) и в сварных соединениях. Ультразвуковому контролю могут быть подвергнуты изделия из большинства материалов, включая металлы, пластмассы, композиты.
Модели EPOCH III, EPOCH III В
|
- Широкополосный частотный диапазон 0,4-17,5 МГц при-6 дБ
- Диапазон развертки 1 - 5000 мм
- Вес 1,2 кг
- Большой яркий электролюминесцентный экран высокого разрешения с рабочим диапазоном температур от -25°С до 70°С (возможен ЖК экран)
- Встроенная память на 140 изображений экрана (настройки, дефектограммы) или 3000 измерений толщины
- Вычисление реальных координат дефекта: глубины залегания, расстояния вдоль поверхности ввода и по ходу луча, запоминание минимальной толщины, индикация количества отражений при контроле многократно отраженным лучом
- Измерение расстояния по переднему фронту или максимуму эхо-сигнала
- Запоминание огибающей эхо-сигнала
- В качестве дополнительных функций прибор оснащается: программами построения АРД-кривых, ВРЧ, DAC
- Подключение ручного сканера (B-scan)
- Возможности документирования результатов контроля посредством интерфейсной программы
- Плоский дизайн и небольшие размеры делают EPOCH III удобным для работы в стесненных условиях
|
Другое оборудование компании "Panametrics":
|
